近日,北京大学吴凯教授课题组利用扫描隧道显微镜(STM)技术研究了分子组装对电子诱导反应的影响。在这项工作中,研究人员通过STM针尖向Cu(111)表面空轨道注入电子,有效触发了4,4″-二氯-1,1′:3′,1′′-三联苯(DCTP)中C-Cl键的选择性断裂。将DCTP分子嵌入不同的组装结构中,包括其自组装和与Br原子的共组装,随着更多的Br原子靠近分子,C−Cl键断裂的能量阈值增加,这表明电子诱导的C−Cl键表面反应对分子组装中的细微变化有敏感响应。这种现象可以通过嵌入在不同组装结构中的DCTP的相关空轨道的能量移动来解释。这些发现揭示了分子组装对电子诱导反应的调节作用,并揭示了一种精确调控表面化学的有效方法。
原文链接:
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/jacs.4c01623